为什么金属薄膜厚度越厚金属薄膜电阻率?

admin 泰里仪器网 2024-09-29 03:03 0 阅读

一、为什么金属薄膜厚度越厚金属薄膜电阻率?

答案:金属薄膜厚度越厚金属薄膜电阻越小。根据电阻定律R=ρL/S,金属薄膜的电阻率确定、长度确定,金属薄膜厚度越厚,横截面积越大,金属薄膜电阻越小。

二、什么是薄膜表面分析?

一是薄膜表面与横断面的形貌,其主要表现为柱状加空穴结构,柱状几乎垂直于表面生长,并且层与层之间有明显的界限,上层柱体与下层柱体并不完全连续,其与蒸发温度及基板的温度有很大关系。

二是薄膜内部的结晶机构。其与结晶时原子的迁移率有关,大多数薄膜都为多晶结构,这是由于薄膜材料从高温蒸发源沉积在低温基板上而迅速冷却或淬火的缘故。通常淀积分子原子或分子重新排列需要一定的时间,而且在重新排列过程中会经历较高温的状态,如果冷却速率大于结晶速率,则这种高温状态则会冻结在膜层内,形成多晶结构。在介绍薄膜微观结构时,有过详述,这里不在介绍。

今天介绍薄膜的成分,不同薄膜所用材料不尽相同,所以薄膜成分也就多种多样,然而分析方法确实千篇一律。

薄膜材料经过固相-液相-气相-固相或固相-气相-固相转化后在基板上凝固而成,因此不仅微观结构和晶体结构,而且薄膜成分都会与块状材料不尽相同。

绝大多数金属都是以原子形式蒸发的,但对一些半导体以及半金属,它们多是以2个或2个以上的原子集合体蒸发的。

就Sb(锑)而言,Sb的四个原子都以4个相似的共价键相结合,故Sb膜中主要含有,同时混有少量的和Sb;

As(砷)主要含有和;

Bi(铋)和Te(碲)主要含有和;

C(碳)、Ge(锗)、Se(硒)、Si(硅)等中也都有类似的集合体。

化合物的情况更复杂。

对于硫属化合物,蒸发时材料是分解的,例如:。但它们在基板上又重新化合了,因而仍能得到化学计量和化学计量一致的膜层。

CdS(硫化镉)蒸汽分解时,可以得到Cd与S、、、。失硫现象比硫化锌严重。

同时,氟化物也引起了不同程度度的失氟,下表1是几种氟化物的失氟情况。

表一 距离的部分氟化物失氟的情况

Table I partial fluorination offluorides

膜层

原子

浓度比

1.3

3.6

1.3

1.4

1.5

0.6

失氟后的膜层吸附潮气的能力的能力提高,这种失氟情况与蒸发源的的情况有密切关系,采用大容量的辐射蒸发源可得到块状化学计量近似一致的膜层。

在蒸发氧化物时,可观察到分解的,即使是也包含着与。失氧最严重的是(氧化钛)、(氧化钽)和(氧化镍)等。、、(氧化铍)、(氧化钴)几乎接近于块状材料。

溅射也包含着大量的复合原子。离子加速器电压越高,溅射的单原子分子就越少,以溅射Gu原子为例,对多晶铜靶,的加速原子为100eV时,Gu原子的含量约有5%左右,其余都是。对单晶Gu(100)靶,除含有和之外,还有。用和溅射Al,也可观察到和。用溅射,溅射出来的99%是Ca与As的中性分子,其余才是CaAs分子。

薄膜化学成分的分析主要是借助表面分析技术,所谓表面分析技术,通常是用分子、光子或离子轰击待分析的样品表面,粒子与固体表面相互接触,结果将引起,激发粒子的发射,即二次离子,利用这种激发和放射过程就能鉴定薄膜表面和薄膜的化学成分。

三、怎么测量半导体薄膜的电阻率?

测量半导体电阻率的方法很多,按是否与样品接触可以分为两类,即接触式和非接触式。常用的电阻率测量方法有直接法、二探针法、三探针法、四探针法、多探针阵列、扩展电阻法、霍尔测量、涡流法、微波法、电容耦合C-V测量等。对于体单晶的电阻率测量,生产中应用最普遍的是四探针法;对于半导体晶片的电阻率测量,微波法等非接触式测量方法由于使用方便、不损坏样品,因而应用也越来越多。

希望对您有帮助。

四、糖表面的薄膜是什么?

糖表面的薄膜是糯米纸,可以吃。

五、不同材料表面的电阻率要求?

电阻率小于10^(-5)Ω•m的称导电体,如金属材料等。

电阻率大于10^8Ω•m的称绝缘体,如陶瓷、橡胶、塑料等材料。

介于两者之间的称半绝缘体或半导体。

六、六硼化镧薄膜表面特性?

采用LaB6陶瓷靶,在氩气气氛下利用直流磁控溅射制备玻璃基底的LaB6 薄膜。

利用X射线衍射、台阶仪、四探针电阻测试仪和红外发射率测量仪等测试手段对样品进行表征,研究基底温度、溅射功率对LaB6薄膜的晶体结构、导电性能及表面红外发射率.

七、请教电阻率与电导率表面电阻率,体积电阻率,电导率?

电阻是一个物理量,在物理学中表示导体对电流阻碍作用的大小,它的英文名称为resistance,通常缩写为R,它是导体的一种基本性质,与导体的尺寸、材料、温度有关。

导体的电阻越大,表示导体对电流的阻碍作用越大。不同的导体,电阻一般不同。体积电阻率表示材料单位体积对电流的阻抗。表面电阻率。代表每平方厘米电介质表面对正方形的相对二边间表面泄漏电流所产生的电阻。

在半导体制造过程中用来测试掺杂程度,多用四探针法,测试出的方块电阻,就是反映表面电阻率的。

线电阻率是对于某一特定直径的线材,所用的方法。单位长度的电阻,就是这个线材的线电阻率。

八、印刷薄膜表面假干怎么处理?

印刷薄膜表面的假干指的是在印刷过程中,印刷品表面出现类似干燥的现象,导致颜色不够鲜明,质感不够良好的问题。为了解决这一问题,有以下几种处理方法:

1. 确保印刷薄膜表面的干燥时间足够。一般会使用烘干设备或者自然晾干的方式,确保印刷品在干燥的环境下适当时间,以使其表面完全干燥。

2. 调整印刷薄膜表面的湿度。通过合适的湿度控制,可确保印刷品在印刷过程中保持适当的湿度,避免干燥过快导致假干的出现。

3. 使用特殊的涂层或油墨。涂层和油墨的选择和配方也会影响印刷薄膜的表面干燥情况。通过使用含有一定水分的涂层或油墨,可以延缓干燥的速度,提高颜色鲜艳度和质感。

4. 控制印刷薄膜的温度。适当调整印刷设备的温度,可以对印刷薄膜表面的干燥速度进行控制,避免假干现象的发生。

总结起来,处理印刷薄膜表面的假干问题需要合理控制干燥时间、湿度、涂层或油墨的配方以及印刷设备的温度。这样可以确保印刷品表面干燥均匀,颜色鲜明,质感良好,提升印刷效果。

九、陶瓷表面电阻率什么意思?

表面电阻是在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商。

表面电阻率是在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商,即单位面积内的表面电阻。表面电阻率不是表征材料本身特性的参数,而是一个有关材料表面污染特性的参数。因为体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去,因此只能近似地测量表面电阻,测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度。

十、表面电阻率和表面电阻有什么区别?

表面电阻:在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商;访伸展流主要为流过试样表层的电流,也包括一部分流过试样体积的电流成分.在两电极间可能形成的极化忽略不计.

  表面电阻率:在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商,即单位面积内的表面电阻.

The End
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